1.Integrisani dizajn optičkog metalografskog mikroskopa i mikroskopa atomske sile, moćne funkcije
2. Ima funkcije optičkog mikroskopa i mikroskopa s atomskom silom, koje mogu raditi u isto vrijeme bez utjecaja jedna na drugu
3.Istovremeno, ima funkcije optičkog dvodimenzionalnog mjerenja i trodimenzionalnog mjerenja mikroskopom atomske sile
4. Laserska glava za detekciju i faza skeniranja uzorka su integrirani, struktura je vrlo stabilna, a zaštita od smetnji je jaka
5. Precizni uređaj za pozicioniranje sonde, podešavanje laserske tačke je vrlo jednostavno
6. Jednoosni pogonski uzorak se automatski približava sondi okomito, tako da se vrh igle skenira okomito na uzorak
7. Inteligentna metoda hranjenja iglom motorno kontrolirane piezoelektrične keramičke automatske detekcije štiti sondu i uzorak
8. Optički sistem za pozicioniranje ultra-velikog uvećanja za postizanje preciznog pozicioniranja sonde i područja skeniranja uzorka
9. Integrirani korisnički uređivač nelinearne korekcije skenera, nanometarska karakterizacija i tačnost mjerenja bolja od 98%
specifikacije:
| Način rada | način dodira, način dodira |
| Opcioni način rada | Trenje/lateralna sila, amplituda/faza, magnetna/elektrostatička sila |
| kriva spektra sila | FZ kriva sile, RMS-Z kriva |
| XY opseg skeniranja | 50*50um, opciono 20*20um, 100*100um |
| Z opseg skeniranja | 5um, opciono 2um, 10um |
| Rezolucija skeniranja | Horizontalno 0,2 nm, vertikalno 0,05 nm |
| Veličina uzorka | Φ≤68mm, H≤20mm |
| Uzorak putovanja na pozornicu | 25*25mm |
| Optički okular | 10X |
| Optički objektiv | 5X/10X/20X/50X Planirajte apohromatske ciljeve |
| Metoda osvetljenja | LE Kohler sistem rasvjete |
| Optičko fokusiranje | Grubo ručno fokusiranje |
| Kamera | 5MP CMOS senzor |
| displej | 10,1-inčni ekran sa ravnim ekranom sa funkcijom merenja koja se odnosi na graf |
| Brzina skeniranja | 0,6Hz-30Hz |
| Ugao skeniranja | 0-360° |
| Radno okruženje | Windows XP/7/8/10 operativni sistem |
| Komunikacijski interfejs | USB2.0/3.0 |
