1. Minijaturiziran i odvojiv dizajn, vrlo jednostavan za nošenje i podučavanje
2. Laserska glava za detekciju i faza skeniranja uzorka su integrirani, struktura je vrlo stabilna, a zaštita od smetnji je jaka
3. Precizni uređaj za pozicioniranje sonde, podešavanje laserske tačke je vrlo jednostavno
4. Jedna os pokreće uzorak da se automatski približi sondi okomito, tako da se vrh igle skenira okomito na uzorak
5. Inteligentna metoda hranjenja iglom motorno kontrolirane piezoelektrične keramičke automatske detekcije štiti sondu i uzorak
6. Automatsko optičko pozicioniranje, nema potrebe za fokusiranjem, promatranje u realnom vremenu i pozicioniranje područja skeniranja uzorka sonde
7. Metoda otpornosti na udarce opruge, jednostavna i praktična, dobar učinak otporan na udarce
8. Integrirani korisnički uređivač nelinearne korekcije skenera, nanometarska karakterizacija i tačnost mjerenja bolja od 98%
specifikacije:
| Način rada | način dodira, način dodira |
| Opcioni način rada | Trenje/lateralna sila, amplituda/faza, magnetna/elektrostatička sila |
| kriva spektra sila | FZ kriva sile, RMS-Z kriva |
| XY opseg skeniranja | 20*20um, opciono 50*50um, 100*100um |
| Z opseg skeniranja | 2.5um, opciono 5um, 10um |
| Rezolucija skeniranja | Horizontalno 0,2 nm, vertikalno 0,05 nm |
| Veličina uzorka | Φ≤90mm, H≤20mm |
| Uzorak putovanja na pozornicu | 15*15mm |
| Optičko posmatranje | 4X optički objektiv/rezolucija 2,5um |
| Brzina skeniranja | 0,6Hz-30Hz |
| Ugao skeniranja | 0-360° |
| Radno okruženje | Windows XP/7/8/10 operativni sistem |
| Komunikacijski interfejs | USB2.0/3.0 |
| Dizajn koji apsorbuje udarce | Spring Suspended |
